Проведен анализ современной литературы по проблемам нанотехнологий. В последнее время все большее значение приобретают инструментальные методы исследования in situ процессов формирования наноматериалов. Так методами дифракции на синхротронном излучении и малоугловой дифракции поляризованных нейтронов исследованы процессы образования пористой оксидной пленки анодированного алюминия, а также темплатированных мезопористых образцов диоксида кремния с упорядоченной системой ферромагнитных нитей, находящихся в порах. Большое значение имеют спектральные методы анализа, в частности спектроскопия комбинационного рассеяния, активно используемая для анализа углеродных и неуглеродных нанотрубок, сверхрешеток квантовых точек.
Результаты и обсуждения. Назрела необходимость проведения планомерных фундаментальных исследований, цель которых – установить возможности получения и использования нанодисперсных веществ в технике, медицине и сельском хозяйстве, что позволит снизить газовую эмиссию и отодвинуть угрозу глобального потепления на планете; улучшить качество и продолжительность жизни в пределах, близким к биологическим; удовлетворить потребности человечества в пресной воде и чистом воздухе, осуществить существенный прогресс в освоении космоса.
Выводы: Экспериментальные исследования последнего десятилетия показали, что развитие нанотехнологий, нацеленных на производство и использование твердых нанодисперсных веществ, тормозится из-за недостатка информации о закономерностях их поведения в техногенных и природных системах. Для обычных материалов известно множество методов определения их структуры и свойств. Однако для наноструктурированных материалов этими методами нельзя определить атомный порядок с высокой точностью («наноструктурная проблема») и, соответственно, структурно-чувствительные характеристики материала, а также классические корреляции состав – структура – свойство. Решение этих вопросов, связанных как с существующими проблемами невоспроизводимости свойств наноматериалов, так и с трудностями их сертификации, возможно, будет найдено с развитием нанометрологии.